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SNIFT 近远场变化工具

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产品描述
 

数据行中,每行数据代表了一个采样点,四列数值分别表示 theta 极化分量和 phi 极化分量的复数值,即theta 极化分量和 phi 极化分量的实部和虚部而非幅度和相位。

 

更多详情请联系我们!

SNIFT 近远场变化工具

概述

SNIFT 软件是TICRA 公司的产品。该软件的主要功能是完成天线近场到远场的数据转换。在计算时,要求输入的近场数据是在一个虚拟球面(或者球面的一部分),以等间隔采样得到。SNIFT 的计算结果精度可以达到 70dB 或者更高,计算出来的远场精度至少能跟近场输入数据精度一致。

应用领域

【测试场景搭建】球面近场天线测试系统包含多个子系统:

  • 机械系统
  • 电子(RF)系统
  • 数据收集和控制系统(DCCS)
  • 数据后处理系统

SNIFT 软件属于数据后处理系统。下图是一个双起重臂类型的近场扫描系统示意图。

 

该图中测试的是一个反射面天线的方向图,测量系统在水平面的坐标关系如下图所示:

 

【得到测量探针数据 】为了进行探针修正,需要得到测量探针的方向图数据,下图所示为一个探针的远场方向图和相位曲线。

 
 

通过 SNIFT 转换得到远场数据

 
 

【对比有无探针修正结果 】对比两个切面(phi=92.25°和phi=87.25°)的方向图结果

 
 

【输入和输出的数据文件格式】SNIFT 的数据默认是在方位面扫描phi 坐标系,然后在 theta 坐标步进。数据格式如下图所示:

 

通过测试得到近场数据,该案例分别测试了电场的 RHC 分量和 LHC 分量。

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